Tjänster och resurser

Optimering & massproduktion

Den största utmaningen med att smidigt övergå från New Product Introduction (NPI) till High-Volume Manufacturing (HVM) är konsekvens. Genom processlåsning, SPC-statistisk processkontroll och djupgående diagnostik av fältreturnerade delar säkerställer vi att den 1 000:e produkten inte kan särskiljas i kvalitet från det första provet.

Massproduktionssäkringssystem:

  • CVD-produktionskapacitet med stor kapacitet och enhetligt termiskt fält:Flera stora CVD-reaktorer med hög renhet i flera zoner möjliggör effektiv deponering på stora grafitsubstrat, vilket säkerställer extremt hög konsistens av termiska fält och flödesfält under batchproduktion.
  • Stringent "Copy-Exact"-kontroll:Efter massproduktionsvalidering låses satser av grafitråmaterial, CNC-bearbetningsrutter, CVD-reaktionsgasrenhet, ugnstemperaturrampkurvor och kammartryck, vilket minimerar variation från sats till sats.
  • SPC Statistisk processkontroll:Full-processövervakning av kritiska mätvärden som filmtjockleksfördelning, ytjämnhet och resistivitet under volymproduktion, vilket driver kärnparametrarna till stabil konvergens med full dataspårbarhet.
  • Fördjupad diagnos av fältreturnerade delar:Samarbeta med kunder för att utföra mikroskopisk diagnostik (SEM + tvärsnittsanalys) av delar som returneras från extrema driftsförhållanden, exakt lokalisera lokalt slitage och spänningskoncentrationspunkter.
  • Dynamisk finjustering av struktur- och processrecept:Baserat på verklig kammarslitagedata, omvänd optimera komponentgeometri och deponeringsprocessparametrar för att förlänga livslängden för efterföljande partier från källan, vilket bildar en god cykel.

Verkliga fall och kundfördelar (erfarenhet):

En ledande tillverkare av TOPCon fotovoltaiska celler:Under den första introduktionen uppvisade grafitbåtstillbehör variationer i filmtjockleken (±15 %) mellan batcherna, vilket påverkade beläggningens enhetlighet. Vi initierade full-process SPC-övervakning och låste tre kritiska processparametrar (deponeringstemperatur, gasflödeshastighet, kammartryck).Inom 3 veckor minskades variationen i filmtjocklekens enhetlighet från ±15 % till inom ±3 %.Linjen har nu levererats stabilt för mer än 200 partier, med en batch-genomgångshastighet som konsekvent överstiger 99,2 %, vilket hjälper kunden att minska risken för skivbrott med 1,5 %.

SPC process control chart

FAQ

1. F: Hur ska jag välja mellan CVD SiC-beläggning och CVD TaC-beläggning?

▼

A:Titta på din processtemperatur och gasfas korrosionsintensitet. Om processtemperaturen är under 1000 °C och huvudsakligen involverar Cl₂/F₂-baserad etsning eller konventionell epitaxi, väljCVD SiCför bästa kostnadsprestanda; om processtemperaturen överstiger 1200 °C och involverar starkt korrosiva atmosfärer (t.ex. SiC PVT enkristalltillväxt), rekommenderar viCVD TaC, som erbjuder överlägsen temperatur och korrosionsbeständighet. Vi kan tillhandahålla en kostnadsfri valrekommendationsrapport baserat på dina specifika processparametrar.

2. F: Stöder du prototyper i ett stycke/liten sats? Vad är ledtiden?

▼

A:Ja! För reverse engineering prototyper,MOQ är 1 st. För konventionella enkla delar, från mottagande av prov till leverans av den kartlagda delen, är den snabbaste ledtiden ca.10–15 arbetsdagar; för delar som involverar komplexa beläggningsprocesser är det ungefär20–25 arbetsdagar. Kontakta våra ingenjörer för snabb utvärdering.

3. F: Vad orsakar CVD-beläggningsdelaminering på grafitdelar under användning? Går det att lösa?

▼

A:90 % av delamineringsfallen orsakas av oöverensstämmelse mellan värmeutvidgningskoefficienten (CTE) för grafitsubstratet och beläggningen, vilket leder till utmattningsflossning under snabb uppvärmning/kylning. Vår lösning: mät först CTE-kurvan för din originaldel exakt, justera sedan substratdensiteten och deponeringstemperaturgradienten speciellt så att de två CTE:erna är mycket matchade. Bindningsstyrkan kan förbättras till mer än1,5 gångerbranschens konventionella nivå.

4. F: Kan du tillhandahålla ett CoA (Certificate of Analysis) för produkterna? Vilken data innehåller den?

▼

A:Varje levererad produkt levereras som standard med enunikt serienummer + fullständig CoA-rapport. Rapporten innehåller: CMM-inspektionsdata för kritiska dimensioner, karta över tjockleksfördelningen för flerpunktsbeläggning, värden för ytjämnhet (Ra) och slutsatser från analys av materialrenhet (GDMS).

Starta din exklusiva tjänst nu

Telefon: +86-18069220752(Tina);+86-15988690905(Sera)

E-post: anny@veteksemi.com

X
Vi använder cookies för att ge dig en bättre webbupplevelse, analysera webbplatstrafik och anpassa innehåll. Genom att använda denna sida godkänner du vår användning av cookies. Sekretesspolicy
AvvisaAcceptera